The home for science and engineering™
Русский
English
中文
日本語
Português
Deutsch
Français
Español
Цены и условия подписки
О Begell House
Контакты
Войти
0
Корзина покупок
Search box
Search
Главная
Книги
е-Книги
Журналы
Справочники & Сборники
Авторы, Редакторы, Рецензенты
А - Я индекс
Поиск журналов
Главная
Begell House Авторы, Редакторы и Рецензенты
Авторы, Редакторы, Рецензенты
Menu
Авторам
Редакторам
Рецензентам
Katsumi Hisano
Research and Development Center Toshiba Corporation l, Komukai Toshiba-cho, Saiwai-ku Kawasaki 210 Japan
Больше информации об авторе - в Directory of Specialists
Articles
APPLICATION OF THE THERMAL NETWORK METHOD TO THE TRANSIENT THERMAL ANALYSIS OF MULTICHIP MODULES
Vol. 12 '1998
-
International Heat Transfer Conference 11
THERMAL ANALYSIS OF PORTABLE ELECTRONIC EQUIPMENT
Vol. 12 '1998
-
International Heat Transfer Conference 11
Главная
Цифровой портал Бегель
Begell Электронная библиотека
Журналы
Книги
е-Книги
Справочники & Сборники
Авторы, Редакторы, Рецензенты
А - Я индекс
Поиск журналов
Цены и условия подписки
О Begell House
Контакты
Language
English
中文
Русский
日本語
Português
Deutsch
Français
Español