The home for science and engineering™
Deutsch
English
中文
Русский
日本語
Português
Français
Español
Preise und Aborichtlinien
Über Begell House
Kontakt
Kundenlogin
0
Einkaufswagen
Home
Bücher
eBücher
Zeitschriften
Referenzen und Berichte
Autoren, Herausgeber, Rezensenten
A – Z Produktindex
Home >
Autoren, Herausgeber und Rezensenten von Begell House
Autoren, Herausgeber und Rezensenten von Begell House
Informationen für Autoren
Informationen für Herausgeber
Für Rezensenten
B. Bocquet
Institut d'Electronique, Microelectronique et Nanoelectronique UMR 8520, Universite des Sciences et Technologies de Lille, 59655 VILLENEUVE D'ASCQ Cedex -France
Weitere Infos über den Autor erhalten Sie im Expertenverzeichnis
Articles
IN SITU LASER ASSISTED DIAGNOSTICS ON GROWTH RATE OF THICK PACVD ORGANOSILICON FILMS
Vol. 9 '2005
-
High Temperature Material Processes: An International Quarterly of High-Technology Plasma Processes
Search
Home
Bücher
eBücher
Zeitschriften
Referenzen und Berichte
Autoren, Herausgeber, Rezensenten
A – Z Produktindex
Preise und Aborichtlinien
Über Begell House
Kontakt