The home for science and engineering™
Русский
English
中文
日本語
Português
Deutsch
Français
Español
Цены и условия подписки
О Begell House
Контакты
Войти
0
Корзина покупок
Search box
Search
Главная
Книги
е-Книги
Журналы
Справочники & Сборники
Авторы, Редакторы, Рецензенты
А - Я индекс
Поиск журналов
Главная
Begell House Авторы, Редакторы и Рецензенты
Авторы, Редакторы, Рецензенты
Menu
Авторам
Редакторам
Рецензентам
Iltai Isaac Kim
Texas A&M University-Corpus Christi, 6300 Ocean Dr. Corpus Christi, TX 78412-5797, USA
Больше информации об авторе - в Directory of Specialists
Articles
Determining micro droplet profile using internal reflection interference
Vol. 5 '2020
-
5th Thermal and Fluids Engineering Conference (TFEC)
Development of aperture total internal reflection (A-TIR) for droplet characterization with 3-D ray tracing and modified Fresnel equation
Vol. 5 '2020
-
5th Thermal and Fluids Engineering Conference (TFEC)
Главная
Цифровой портал Бегель
Begell Электронная библиотека
Журналы
Книги
е-Книги
Справочники & Сборники
Авторы, Редакторы, Рецензенты
А - Я индекс
Поиск журналов
Цены и условия подписки
О Begell House
Контакты
Language
English
中文
Русский
日本語
Português
Deutsch
Français
Español